場發(fā)射掃描電鏡搭載*的實時元素成像功能和先進的自動光學系統(tǒng)，實現(xiàn)灰色區(qū)域解析，讓您不再憂心顯微鏡性能，更加專注于研究本身。掃描電鏡具有多功能性和高質(zhì)量成像性能，采用了創(chuàng)新性的末級透鏡設計，引入靜電式末級透鏡，支持鏡筒內(nèi)高分辨率檢測，即使是針對磁性樣品也可實現(xiàn)成像及分析性能。在原有性能基礎之上，進一步優(yōu)化了超高分辨成像能力，并且增設許多新功能提升其易用性。
場發(fā)射掃描電鏡在耐用的SEM平臺上引入了智能對中技術(shù)，不再需要用戶手動進行調(diào)整操作，而且，F(xiàn)LASH自動執(zhí)行精細調(diào)節(jié)工作，只需移動鼠標幾次，就可以完成必要的透鏡居中、消像散和聚焦矯正。此外，掃描電鏡的工作距離不再意味著低分辨成像，系統(tǒng)還可升級實時元素譜/圖成像功能，*改變了幾十年來傳統(tǒng)SEM-EDS固有的元素分析流程，將元素分析效率提升。任何用戶都可以輕松地得到的分析效果。
場發(fā)射掃描電鏡的性能特點：
1.全面解析：全面的納米和亞納米分辨率性能，適用于納米顆粒、粉末、催化劑、納米器件、大塊磁性樣品等材料；
2.靈活性：非常靈活的處理范圍廣泛的樣品類型，包括絕緣體，敏感材料，或磁性樣品，并收集對您的應用重要的數(shù)據(jù)；
3.SmartAlign技術(shù)：使用SmartAlign技術(shù)(智能調(diào)整光學系統(tǒng))，實現(xiàn)光學系統(tǒng)自動調(diào)整，減少維護時間；
4.先進的自動化：先進的自動化包括FLASH自動圖像微調(diào)、撤銷、用戶向?qū)?、Maps成像拼接的FLASH技術(shù)；
5.實時定量EDS：元素信息觸手可及，利用ColorSEM技術(shù)，提供實時元素面分布成像定量分析，結(jié)果獲取更加快速、簡便；
6.標準工作流操作：內(nèi)置了用戶工作流功能，無論是初學者還是經(jīng)驗豐富，都能夠快速上手，并穩(wěn)定獲取實驗數(shù)據(jù)。
