STEM透射電鏡

產品介紹

Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射電鏡提供快速、準確的納米材料多尺度表征，配備多種創新功能以提高效率、精度與易用性，是學術、政府和工業等領域進行高級研究與分析的理想選擇。

高分辨率成像，獲取更高質量的數據
Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、能譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分面分析的三維化學表征功能。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制軟件通過智能掃描引擎、基于多個 STEM 探測器的多通道合并技術以及差分相位襯度 (DPC) 成像技術，顯著改善了 S/TEM 成像質量，可以更好地分析電磁結構，并實行快速、準確的 EDS 數據處理和定量分析。

X-FEG 高亮度電子槍可以在提供高達標準肖特基場發射電子槍五倍亮度的同時保持較小的會聚角。用戶可以獲取高信噪比以及 STEM、EDS 圖像分辨率和更多高分辨 TEM 應用。X-FEG 高亮度電子槍所具有的高穩定性及使用壽命很長等特點，使其具有更高的成像效率。

視野更大，速度更快

Talos 快速 D/TEM 成像支持高分辨率以及原位動態成像。 Thermo Scientific Ceta 16M TM 相機的視場范圍更大，圖像采集分辨率可高達每秒 25 幀，同時，壓電樣品臺可確保高靈敏度、無漂移成像和樣品導航，從而節約時間并允許用戶采集更多樣品數據。

加快納米尺度分析以更快獲取答案

Talos F200X S/TEM 采用賽默飛 Super-XTM 集成 EDS 系統，配備四個硅漂移 X 射線探測器，具有*靈敏度，每秒可收集高達 105 幅能譜。X-TWIN 物鏡集成，大限度地提高了 X 射線收集效率，同時達到給定束流(甚至是低強度 EDS 信號)下的理想輸出計數率。

更輕松地開展研究
Talos S/TEM 采用友好的數字用戶界面和人體工程學設計，允許多名科學家訪問成像和分析工作流程。快速圖像采集與簡單易用的操作平臺相結合，即使是經驗不足的操作者也能夠快速收集結果。人機分離的遠程操作設計顯著提高了易用性、舒適性和電鏡的穩定性。此外，為了確保維持工作效率，Talos S/TEM 配備了新型設備狀態記錄和診斷軟件，以便收集重要的儀器參數，便于遠程診斷和支持。

Thermo ScientificTM TalosTM F200X STEM透射電鏡參數：

X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(@200 kV)
總電子束電流     > 50 nA
探針電流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV)
Super-X EDS 系統    采用對稱設計的 SDD 能譜探頭，無窗設計，遮板保護
能量分辨率  ≤ 136 eV Mn-Kα @10 kcps(輸出)
快速 EDS 面分析    像素駐留時間短至 10 μs
STEM HAADF 分辨率  0.16 nm
EDX 立體角 0.9 srad
TEM 信息分辨率 0.12 nm
大衍射角度 24 ?
雙傾樣品桿的大傾斜角度 ±35° α 傾角 /±30° β 傾角
樣品臺大傾斜角度 ±90