CleanMill氬離子研磨系統為電池樣品SEM表征提供高質量的制樣方案，傳統的機械研磨方式制備樣品斷面，斷面不可避免的存在機械損傷和磨料嵌入樣品引起的污染。使用氬離子束切割樣品制備，可以制備出沒有機械損傷和表面污染的平整斷面，非常適用于制備電池材料和部件的斷面樣品，從而進行掃 描電子顯微鏡結構表征分析。

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更新日期：2025-09-10

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XTrace-基于SEM高性能微區熒光光譜儀采用了Ｘ射線毛細導管技術，利用該技術，即使在非常小的樣品區域也能產生很高的熒光強度。Ｘ射線毛細導管將Ｘ射線源的大部分射線收集，并將其聚焦成直徑35微米的一個Ｘ射線點。

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更新日期：2023-03-20

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精密刻蝕鍍膜系統PECS II 685，一款桌面型寬束氬離子拋光及鍍膜設備。對于同一個樣品，可在同一真空環境下完成拋光及鍍膜。

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更新日期：2023-03-20

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ChromaCL2第二代實時彩色陰極發光成像系統，是一款*的產品。它具有高效的光學采集和色散能力，采用陣列光電倍增管得到高增益光探測能力。通過DigitalMicrograph軟件實時地將光子脈沖信號混合成實時彩色陰極發光圖像。

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更新日期：2023-03-20

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Gatan原位加熱臺Murano 525,精悍緊湊，能方便地與大多數掃描電鏡的標準樣品臺接口，它包含一個絕熱接口，適用于二次電子像、電子背散射衍射（EBSD）與聚焦離子束（FIB）加工。能夠對大至9mm x 4.5mm x 1.5mm大小的樣品進行快速加熱。

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更新日期：2023-03-20

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MICROTEST 2000E系列原位動態拉伸試驗臺，可以對金屬樣品施加高達2000N的拉力，用戶EBSD分析，或者對一些其他材料進行常規的應力-應變分析和SEM成像。試樣夾具70度角度傾斜，為EBSD分析提供了的設置。

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更新日期：2023-03-20

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